统一热线:18020500647

您所在的位置:精质视觉 > 新闻中心>基于机器视觉半导体表面缺陷检测怎么样

基于机器视觉半导体表面缺陷检测怎么样

2021-11-23 15:46:38 精质视觉

  基于机器视觉半导体表面缺陷检测怎么样,半导体的广泛使用让人们对产品质量的要求越来越高,精质视觉半导体表面缺陷检测能够在半导体生产过程中对半导体表面的缺陷检测。对于到半导体外观缺陷、尺寸大小、定位、校准、质量等等的检测和测量,精质视觉半导体表面缺陷检测系统已在此行业内得到普遍应用。xgE机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

半导体表面缺陷检测

  半导体广泛应用于各个领域,各类电子产品已经成为经济发展,在半导体制造过程中,不可避免地在半导体表面产生各类缺陷,直接影响到半导体的运行效能及寿命。xgE机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  传统人工检测方法已经很难满足半导体的高速发展,高精度的检测需求,精质视觉利用机器视觉技术对半导体表面缺陷进行检测,具有无接触无损伤,检测精度高、速度快、稳定性高等优点。xgE机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

相关产品