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半导体机器视觉表面缺陷检测设备

2021-11-22 17:15:01 精质视觉

  精质视觉研发的半导体机器视觉表面缺陷检测设备,该系统是精质视觉科技在机器视觉工业检测领域多年技术积累,又根据市场的需求所研发的设备。产品具有集成度高,操作简便,设置灵活,稳定可靠等优点。适用半导体、网络变压器等管脚类电子产品检测对象。bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

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  二、视觉检测优势bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  1、检测结果标准,可量化,排除了半导体检测结果受检测人员主观意愿、情绪、视觉疲劳等人为因素的影响,可信度高;bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  2、速度快、效率高、成本低,机器视觉检测能达到15PCS/s,提高了生产率,同时也节约了人力成本;bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  3、独特的3D结构光成像原理,多面成像检测,3D投影图像然后对原始管脚和其投影分别检测引脚长宽、间距、跨距、共面度和共线度。bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉
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  三、半导体检测缺陷类型bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  本系统采用四个相机,分为四个工位对半导体芯片进行检测,分别是:bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  1、方向工位检测;bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  2、镭射(印字)工位检测;bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  3、3D工位检测;bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  4、编带工位检测。bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  七、视觉检测说明bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉
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  半导体检测设备采用四相机多工位检测;采用方法包括: 方向检测、表面缺陷检测、多模版灰度匹配、非印字面检测、3D共线检测、编带工位检测等bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  方向工位检测,检测芯片管脚长宽、间距和共面度,同时对产品的方向进行检测,该工位检测结束发送伴随、OK/NG以及方向信号;bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  镭射(印字)工位检测,主要检测产品壳体破损、镭射印字检测以及非印字区域污渍检测,检测结束发送伴随和OK/NG信号;bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  3D工位检测,该工位通过三次打光、采图,两次拼图组成芯片的3D投影图像然后对原始管脚和其投影分别检测引脚长宽、间距、跨距、共面度和共线度,检测结果发出伴随和OK/NG信号;bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

  编带工位检测,该工位可通过一次打光检测是否有印字,引脚长宽和共面度,同时该工位存在复检信号,检测结果不计入总结果,最后发出伴随和OK/NG信号;bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉
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  半导体机器视觉表面缺陷检测设备集软件和硬件于一体,整合本公司在机器视觉检测行业多年技术及经验积累,同时结合各类视觉检测的实际需求而推出,为客户提供最优的机器视觉解决方案。bIT机器视觉检测设备_CCD视觉检测_外观缺陷检测系统_精质视觉

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